ADI亚德诺半导体发布高性能数据采集ADC/DAC专用芯片AD4858BBCZ 技术方案 一、行业需求背景:高压精密采集领域的技术痛点与ADI的解决方案随着工业自动化、新能源发电、半导体测试及智能电网等领域的快速发展,“高压场景下的多通道精密同步采样”成为核心技术需求。当前市场中,传统高压采集方案常面临三大痛点:一是多通道采集存在相位差,导致电能质量分析、功率计算等场景的精度偏差;二是高压信号与微小信号共存时,动态范围不足,难以同时捕捉两类信号;三是系统设计复杂,需额外搭配衰减器、放 芯城品牌采购网 2025-11-07 11292 ADI亚德诺半导体AD4858BBCZ